LOGIN
주문내역
CART(0)
자료실
고객센터개발 갤러리 카이스트 COB Type 3광신호 베어칩 테스트보드 개발의뢰완료
KAIST의 개발 광신호 베어칩 테스트를 위한 테스트보드 3번째 보드개발해 드렸습니다.
광신호 베어칩 테스트보드의 신호처리가 제대로 되는지 계측기와 연동되어 확인하기 위해 RF Shield설계하여 테스트 보드를 완성해 드렸습니다.
개발범위 : 회로설계 / PCB설계
개발기간 : 4주
특징 : 광신호칩의 신호파형측정을 위한 몰딩도 안된 상태에서 베어 칩근처에 최대한 가까이 붙여 노이즈줄이고 난이도 높은 커넥터연결 및 전체조립
[이 게시물은 admin님에 의해 2023-07-01 03:12:41 개발 갤러리에서 복사 됨]
- 날짜: 21-11-16 11:14
- 조회: 12767